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微碧半导体可控硅在白色家电的应用广泛，而dIT/dt是衡量可控硅可靠性的一个重要的动态参数，它的重要性等同于可控硅的，它是可控硅导通电流的变化率，过快的电流变化率会使得可控硅局部产生很大的热量，可能会导致可控硅的永久性失效。故设计一款测试该参数的测试电路显得尤为重要，高科特的可控硅且符合低成本。
